Categoría: Metric Views

Disponible la edición especial 30 Aniversario MetricViews

Esta edición especial de MetricViews representa una celebración de 30 Aniversario IFPUG, y el Año Internacional de Medición del Software. En esta edición, disponible para descargar desde el sitio IFPUG, encontrará artículos de una selección de autores internacionales, junto con una entrevista en profundidad con notable industria, gurú de la medición del mundo, bien conocido...

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Disponible febrero 2017 edición de MetricViews

Esta edición de MetricViews centra alrededor de un tema común: estimación. En esta edición, disponible para descargar desde el sitio IFPUG, Carol Dekkers y Joe Madden comienzan nosotros con maneras de mejorar sus estimaciones basadas en un enfoque de muestreo de FP, Amit Arun Javadekar nos recuerda la estimación precisa del impacto...

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Convocatoria de artículos para enero 2017 edición de MetricViews

Los editores de MetricViews, IFPUG ’ publicación semestral s, están aceptando artículos para enero, 2017 edición. Estamos buscando artículos de entre 1,000 y 3,000 palabras, con o sin gráficos, sobre un tema de permanente interés para los profesionales de la función punto de análisis y COMPLEMENTO. El tema para esta próxima edición será...

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